同惠線圈測(cè)試儀

TH2883系列同惠線圈測(cè)試儀可完整提供低壓30V到高壓10kV，單通道到多通道（最大8通道）系列線圈測(cè)試儀解決方案。該產(chǎn)品線采用當(dāng)前主流32bit CPU和高密度 SMD貼裝工藝，65k色的7寸寬屏TFT顯示器。操作功能簡(jiǎn)潔易用，顯示界面清新亮麗。低至30V，高至10kV涵蓋寬范圍脈沖電壓，低至1uH電感量的線圈測(cè)試，高達(dá)200Msps的采樣率，6k Bytes的存儲(chǔ)深度，讓您的測(cè)試“無(wú)微不至"。

TH2883系列根據(jù)輸出電壓不同分為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三種單通道輸出的型號(hào)。TH2883-1是低電感脈沖式線圈測(cè)試儀，具有低至30V、最高1200V的脈沖電壓，可測(cè)試低至1uH電感量的線圈，是開(kāi)關(guān)電源等所用電感線圈的理想測(cè)試產(chǎn)品。TH2883-5具有100V-5000V的寬范圍脈沖電壓，是測(cè)試各種線圈的標(biāo)配產(chǎn)品。TH2883-10具有最高10kV的脈沖輸出電壓，可測(cè)試更高絕緣耐壓的匝間測(cè)試。若配備TH28831匝間絕緣多路掃描儀可將上述三款單通道測(cè)試儀擴(kuò)展為10通道。

TH2883系列還提供了4通道與8通道兩款多路測(cè)試的一體機(jī)，他們所對(duì)應(yīng)的型號(hào)分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5供用戶(hù)靈活選擇。

TH2883系列產(chǎn)品標(biāo)配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便您圖形的快速保存，又方便您進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。

TH2883系列同惠線圈測(cè)試儀性能特點(diǎn)：

l  脈沖電壓輸出：100V-5kV 10V步進(jìn) 8通道

l  電感測(cè)試范圍：≥10uH

l  測(cè)試速度：6次／秒

l  200Msps的波形采樣率

l  四波形比較判定方法

l  每通道可獨(dú)立編程控制或者關(guān)閉

l  65k色7" TFT寬屏顯示

l  6k Bytes的存儲(chǔ)深度

l  高帶寬模擬采集電路，可真實(shí)反映電暈波形

l  最高可添加20個(gè)測(cè)試步驟

l  儀器參數(shù)自動(dòng)保存

l  電壓、時(shí)間及頻率的測(cè)量

l  波形的放大、拉伸與移動(dòng)，使您看得更精準(zhǔn)

l  多樣本平均，可進(jìn)行32個(gè)標(biāo)準(zhǔn)波形的平均處理

l  破壞性測(cè)試為您選擇合適測(cè)試電壓

l  消磁脈沖的施加，保證測(cè)試波形一致

l  不同用戶(hù)權(quán)限的登陸，便于您的管理

l  20組儀器文件可供存儲(chǔ)并自動(dòng)加載

l  屏幕信息快存于U盤(pán)（COPY鍵）

l  通過(guò)U盤(pán)自動(dòng)升級(jí)系統(tǒng)固件

l  中英文可選作界面

l  四種可選的顯示界面效果

l  腳控接口用于簡(jiǎn)便快速的測(cè)量

l  Handler接口用于可實(shí)現(xiàn)聯(lián)機(jī)操作

l  RS232C、USB Device和LAN實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

A. 線圈性能分析

線圈類(lèi)產(chǎn)品（如變壓器、電機(jī)等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會(huì)產(chǎn)生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。TH2883系列脈沖式線圈測(cè)試儀通過(guò)比較被測(cè)線圈的衰減振蕩波型與標(biāo)準(zhǔn)波形來(lái)判定該繞組的電感、品質(zhì)因素（Q值）、繞組的圈數(shù)差、匝間層間短路，在有導(dǎo)磁材料的情況下還能判斷其材質(zhì)的差別，高壓脈沖下電暈放電的發(fā)生還可以對(duì)繞組層間或多個(gè)繞組間絕緣不良進(jìn)行判定。

圖A-1中的自激振蕩衰減波形直接和線圈的電感值 L 及品質(zhì)因素 Q 值有著密切的關(guān)系，而 L 值及 Q 值又和線圈的圈數(shù)、制造工藝、是否空心線圈并且還與導(dǎo)磁材料特性又有著不可分割的關(guān)系。由于施加電壓是高壓脈沖電壓，因此，線圈短路、匝間局部短路或由于絕緣損傷引起的層間或匝間電暈放電現(xiàn)象自然很容易被發(fā)現(xiàn)。

B. 四種波形判斷方法

a) 面積比較方法

如圖 B-1 所示，在任意 A～B 區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形面積進(jìn)行(積分)計(jì)算，并與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進(jìn)行比較，用這兩個(gè)波形面積的差異值與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積的百分比作為判定依據(jù)，判定基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

波形面積近似的與能量損失成正比，所以可以使用面積比較方法來(lái)判斷線圈中的能量損耗，有效的檢測(cè)線圈層間和匝間短路。

b) 面積差比較方法

如圖 B-2 所示，在任意 A～B 區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形的 Y 軸方向的差異值進(jìn)行計(jì)算(積分計(jì)算的結(jié)果為 A～B 區(qū)間內(nèi)的陰影部分)和標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積比較，基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

面積差比較方法主要表現(xiàn)了電感量 L 的差異和能量的損耗，這個(gè)比較方法可以有效的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測(cè)線圈的電感量 L 的差異。

c) 電暈比較方法

如圖 B-3 所示，與波形的差異無(wú)關(guān)，在任意 A～B 區(qū)間內(nèi)，僅在被測(cè)線圈測(cè)試波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進(jìn)行無(wú)損提取，并將計(jì)算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較， 判定電暈放電量是否合格，設(shè)定值是一個(gè)整數(shù)。

此方法對(duì)線圈內(nèi)部絕緣性能反應(yīng)明顯。對(duì)于線圈絕緣性能要求高的場(chǎng)合需要使用電暈比較方法，因?yàn)榻^緣性能的好壞直接影響線圈產(chǎn)品的使用壽命到長(zhǎng)短。

d) 相位差比較方法

如圖 B-4 所示，用戶(hù)可以用一個(gè)需要作比較的過(guò)零點(diǎn)，儀器判斷被測(cè)線圈測(cè)試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形在這個(gè)過(guò)零點(diǎn)的偏移量，然后和標(biāo)準(zhǔn)波形的振蕩周期作比較，并用這兩個(gè)量的百分比作為判斷依據(jù)，基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。如圖中，A～B 間是偏移量，C～D 間是標(biāo)準(zhǔn)波形振蕩周期，設(shè)定的是比較波形的第3個(gè)過(guò)零點(diǎn)。

此方法主要用來(lái)反映電感量差異。線圈不良可以用相位差來(lái)判別。

面積比較主要是根據(jù)能量損失，能夠很有效地進(jìn)行層間短路和圈對(duì)圈的檢測(cè)，而電暈則是以發(fā)現(xiàn)線圈內(nèi)部絕緣缺陷為目的的檢測(cè)方法。另外需要考慮電感值問(wèn)題的話，可以增加面積差來(lái)比較判定。

磁芯材料差異可以用面積、面積差和電暈方法來(lái)判別。對(duì)馬達(dá)、螺線管、繼電器等大部分線圈，采用面積比較和電暈測(cè)試方法。

C. 破壞測(cè)試功能

通過(guò)對(duì)線圈施加上升步進(jìn)電壓，結(jié)合電暈放電的情況來(lái)判斷被測(cè)件的極限耐壓值。

D. 多通道測(cè)試

TH2883系列提供4通道與8通道兩款多路測(cè)試的一體機(jī)，他們所對(duì)應(yīng)的型號(hào)分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外還提供一款將單通道測(cè)試儀擴(kuò)展為10通道的掃描擴(kuò)展器供用戶(hù)靈活選擇。多路測(cè)試儀的應(yīng)用可以提高對(duì)三相四線或三項(xiàng)三線繞組的測(cè)試效率，一次測(cè)試多個(gè)繞組，解決多次切換繞組的煩惱。

應(yīng)用

■ 電機(jī)線圈匝間絕緣/層間短路測(cè)試

■ 變壓器線圈匝間絕緣/層間短路測(cè)試

■ 繞線電感線圈匝間絕緣/層間短路測(cè)試

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