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    ISO 11452-2汽車(chē)電子BCI大電流注入法測(cè)試

    更新時(shí)間:2024-07-04      點(diǎn)擊次數(shù):516

    ISO 11452-2道路車(chē)輛-窄帶輻射電磁能量的電子干擾組件試驗(yàn)方法--第4部分:大量電流注入(BCI)
    根據(jù)不同的車(chē)廠、國(guó)家的要求,針對(duì)汽車(chē)電子產(chǎn)品的窄帶電磁輻射干擾測(cè)試的差異性是很大的,主要集中在測(cè)試頻段、干擾強(qiáng)度以及天線的切換頻率等等。本文主要根據(jù)ISO 11452-4來(lái)介紹大電流注入法(BCI)測(cè)試的基本條件以及以下要求。
    標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)
    ISO 11452-2: Road vehicles — Component test methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Part 4: Bulk current injection (BCI)
    測(cè)試目的
    該測(cè)試目的是檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)【1MHz – 400MHz】頻帶的抗干擾性能。
    測(cè)試條件
    測(cè)試溫度:(23 ± 5) °C
    電源電壓:(13.5 ± 0.5) V for 12 V; (27 ± 1) V for 24 V
    調(diào)制:
    a). 未調(diào)制正弦波信號(hào)(可使用范圍:0.01 MHz to 18 GHz,校準(zhǔn)時(shí)采用)
    b). 1KHz, 80%調(diào)制的AM(振幅調(diào)制)信號(hào)(可使用范圍:0.01 MHz to 800MHz,測(cè)試時(shí)采用)

    ISO 11452-2汽車(chē)電子BCI大電流注入

    滯留時(shí)間(Dwell time): 不小于1s

    BIC大電流注入

    測(cè)試場(chǎng)地:
    測(cè)試應(yīng)該在屏蔽室里完成。
    測(cè)試設(shè)備要求
    大電流注入探頭,該探頭工作頻率要能滿足測(cè)試范圍,能持續(xù)的經(jīng)受整個(gè)測(cè)試頻率范圍內(nèi)的輸入功率。
    大電流校準(zhǔn)探頭,該探頭工作頻率要能滿足測(cè)試范圍。
    AN(仿真網(wǎng)絡(luò))
    信號(hào)發(fā)生器,擁有內(nèi)部(或者外部)的調(diào)制能力
    功率放大器
    功率計(jì)(或者等同設(shè)備),測(cè)試正向傳輸功率和反射功率
    電流測(cè)量設(shè)備
    測(cè)試設(shè)置(替代法)

    大電流注入

    汽車(chē)大電流注入

    接地板:材料為0.5mm(最小)后的銅,黃銅或者鍍鋅鋼材;尺寸最小為1000mm寬,1500mm長(zhǎng)或者超出被測(cè)物200mm;接地材料的阻抗應(yīng)不大于2.5豪歐,間隔應(yīng)不大于300mm。
    電源和AN:對(duì)于遠(yuǎn)端接地應(yīng)用兩個(gè)AN,對(duì)于近端接地可以只用一個(gè)AN(接于正極)。
    EUT擺放:EUT應(yīng)置于絕緣,低介電常數(shù)(不大于1.4)且厚度為50(±5)mm的材料上。
    測(cè)試線束,EUT和模擬負(fù)載的線束總長(zhǎng)應(yīng)為1000(±100)mm,測(cè)試線束應(yīng)置于絕緣,低介電常數(shù)(不大于1.4)且厚度為50(±5)mm的材料上。
    大電流探頭:注入探頭所在位置距EUT的距離d如下(替代法):
    d = (150 ± 10) mm
    d = (450 ± 10) mm
    d = (750 ± 10) mm
    測(cè)試結(jié)果性能判據(jù)
    Class A: EUT功能或性能一直保持正常,無(wú)任何異?,F(xiàn)象。
    Class B: 所有功能或性能在干擾狀態(tài)下,一個(gè)或者多個(gè)功能或者性能偏移容差,但所有功能或性能在干擾移除以后能恢復(fù)到規(guī)定的容差限值以內(nèi)。并且存儲(chǔ)數(shù)據(jù)不能有任何異?,F(xiàn)象。
    Class C: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适?,但在施加干擾之后EUT能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式。
    Class D: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适?,但在施加干擾之后通過(guò)人為的干預(yù)能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式。
    Class E: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适?,并且不能自?dòng)恢復(fù)到正常模式。

    推薦型號(hào):CDG7000射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)

    蘇州威銳科電子有限公司專(zhuān)注于電磁兼容測(cè)試(EMI+EMS),產(chǎn)品涵蓋靜電放電模擬器、射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度而是系統(tǒng)、共模傳導(dǎo)干擾模擬器、電快速瞬變脈沖群發(fā)生器、雷擊浪涌發(fā)生器、電源故障模擬器等電磁兼容性測(cè)試產(chǎn)品。我們?cè)谌珖?guó)各地已建立了完善的銷(xiāo)售 網(wǎng)絡(luò)和服務(wù)體系,無(wú)論您在哪里都可以享受到方便快捷的優(yōu)質(zhì)服務(wù)。威銳科電子依靠敬業(yè)、團(tuán)隊(duì)、創(chuàng)新"的企業(yè)精神,提供更好的服務(wù),竭誠(chéng)為廣大用戶解決各種電磁兼容測(cè)試問(wèn)題。

                                                   

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